Microscopul FT-IR HYPERION II reprezinta o inovatie de ultima generatie, special conceput pentru activitati de cercetare si dezvoltare. Acest instrument ofera o combinatie exceptionala intre imagistica laser in infrarosu (QCL) si tehnologia FT-IR, furnizand capacitati fara precedent in domeniu.

Caracteristici principale:

• Selectie de detectoare: Alegeti dintre detectoarele LN2-MCT cu banda larga, medie si ingusta si MCT racit termoelectric (TE) pentru µ-FT-IR.
• Imagistica: Detectorul cu matrice FPA pentru imagistica in infrarosu de inalta sensibilitate (64 x 64 sau 128 x 128 pixeli).
• Implementare QCL: Modul optional de formare a imaginilor cu laser in infrarosu (ILIM) pentru tehnologia QCL (laser clasa 1).
• Obiective: Diverse optiuni pentru obiective IR, ATR, GIR si VIS pentru diverse aplicatii.
• Gama spectrala: De la infrarosu apropiat (NIR) la infrarosu indepartat (FIR).
• Selectia aperturii: Aperturi manuale si automate tip knife-edge, diafragme metalice pentru NIR.
• Accesorii si platine port-obiect: Selectie larga, inclusiv macro-imagistica IR, suporturi cu racire/incalzire si compartiment pentru probe.
• Accesorii vizualizare/optice: Iluminare in camp intunecat si fluorescenta, polarizoare VIS si IR.

Avantaje ale HYPERION II:

• Suprapunere perfecta a imaginilor spectrale si vizuale in toate modurile de masurare.
• Microscopie FT-IR de inalta sensibilitate, limitata de difractie, cu detector FPA.
• Combinatie unica intre tehnologia FT-IR si QCL pentru imagistica laser in infrarosu.
• Tehnologie patentata de reducere a coerentei pentru masuratori Laser Imaging fara artefacte.
• Viteze mari de imagistica: 0,1 mm²/s (FPA) si 6,4 mm²/s (ILIM).
• Detector TE-MCT optional pentru microscopie IR de inalta rezolutie fara azot lichid.

Aplicatii:

• Stiintele vietii, produse farmaceutice, studii de emisivitate, analiza defectiunilor, criminalistica, microplastice, cercetare si dezvoltare industriala, polimeri si materiale plastice, caracterizarea suprafetelor, semiconductori.

Microscopul FT-IR HYPERION II reprezinta un instrument flexibil, precis si configurabil, care intruchipeaza 20 de ani de inovatie. Acesta stabileste un punct de referinta in microscopia FT-IR prin integrarea perfecta a tehnologiei QCL, oferind utilizatorilor un control si o performanta de neegalat.